Nanjing Changsheng Instrument
为用户创造价值是长盛人永恒的追求
为满足第三代半导体元器件的测试要求,我司推出可持续运行3000小时以上的IC芯片老化测试仪,为国产芯片的可靠性测试提供了有效的解决方案。同时,长盛已在全国各地建立了完善的销售网络和服务体系,无论您在哪里都可以方便快捷的享受到“长盛”优质的服务。为用户创造价值是长盛人永恒的追求

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